Flexible Testszenarien.
Tap.X skaliert vom Engineering-Bench bis zur vollautomatisierten Multi-Station-Linie — auf einer skalierbaren Multi-Instanz-Architektur mit zentral orchestrierten OpenTAP-Instanzen.
Ein Prüfling.
Ein Testablauf.
Ein Testsystem mit einem einzelnen Testprozess zur Prüfung eines Prüflings. Geeignet für einfache Anwendungen, Engineering-Validation, Service oder manuelle Prüfplätze.
Mehrere Prüflinge.
Ein gemeinsamer Ablauf.
Mehrere Prüflinge werden innerhalb eines gemeinsamen Testablaufs getestet. Geeignet z.B. für Leiterplatten-Nutzen oder mehrere Produkte in einer gemeinsamen Aufnahme. Fokus: synchronisierte Tests in einem Ablauf.
Unabhängige Sockets.
Asynchrone Prüfung.
Tap.X unterstützt mehrere parallel betriebene Test Sockets. Jeder Socket startet und stoppt unabhängig, hat eigenen Testfortschritt und eigene Fehlerbehandlung — ohne starre Taktbindung.
- Unabhängiger Start & Stopp je Test Socket.
- Individueller Testfortschritt pro Socket.
- Separate Fehlerbehandlung.
- Asynchrone Prüfung ohne starre Taktbindung.
// Multi-Instanz-Architektur: mehrere parallel laufende OpenTAP-Instanzen, zentral orchestriert.
HV → EOL → Endprüfung.
Eine Linie.
Die Architektur eignet sich nicht nur für klassische Mehrfachtester mit identischen Tests, sondern auch für Produktionsanlagen mit aufeinanderfolgenden oder voneinander abhängigen Prozessen.
Beispiel: Ein Prüfling durchläuft zuerst einen Hochspannungstest und anschließend einen End-of-Line-Test. Beide Schritte laufen auf unterschiedlichen Sockets bzw. Instanzen — flexibel kombiniert.
Eine Architektur.
Alle Szenarien.
Wir zeigen Multi-Socket-Orchestrierung an Ihrem realen Linien-Setup.